垂直式探针卡

2026年中国垂直式探针卡行业市场政策汇总、产业链图谱、市场规模、竞争格局及发展趋势分析：国产化替代进程提速[图]

垂直式探针卡（VerticalProbeCard）是晶圆测试（CP）中核心的接口器件，其探针与基材垂直排布，垂直向下接触晶圆上的焊盘或凸块，实现测试机（ATE）与被测芯片（DUT）的电学连接，用于封装前的功能、参数与可靠性筛选。